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Otek AOI介绍
AOI产品的技术核心就是它的图像识别系统。图像识别系统的好坏主要由图像识别算法和图像采集系统来决定,图像采集系统为硬件部分,由摄像机、光源、运动机构等组成,图像识别算法则是软件部分,AOI设备硬件的配置取决于该设备的软件算法。
Otek 自动光学检测仪采用自主开发的归一化的彩色相关算法(normalized color correlation)来代替一般使用的灰度相关算法。由于彩色相关算法充分利用彩色图像中的红绿兰(RGB)三基色的全部信息,所以比灰度相关算法具有更高的识别准确性和稳定性。彩色相关算法所利用的信息量比灰度相关算法多2倍,所以彩色相关的运算速度也减慢2倍,但是通过采用专门为多媒体应用所开发的专门运算指令集(MMX)技术使得Otek自动光学检测仪可以在同样或者更短的时间内搜索更多的图像信息。采用彩色相关算法还可以识别灰度算法很难识别的彩色标示的器件,如电容等。
Otek自动光学检测仪依靠特殊的光源设置,可以使焊点在少锡和多锡时的图像与正常情况时图像的明暗程度发生明显变化,从而可以检测出焊锡错误。Otek的焊锡检测算法具有检测准确度高、误检低的特点。
Otek自动光学检测仪的焊脚检测算法与其他产品相比,对焊脚绝对位置的依赖性大幅度降低,所以Otek自动光学检测仪可以在定位精度相同甚至略低的情况下取得更好的焊脚检测效果
Otek自动光学检测仪性能参数表
| 产品型号 |
Otek 300 |
Otek 600 |
Otek 1000 |
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参考外观 |
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工作方式 |
桌面式 |
落地式 |
在线式 |
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检测方式 |
线性扫描 |
CCD |
CCD |
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可检测最大
PCB尺寸 |
210*290mm |
430*320mm |
430*320 |
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最大器件高度 |
20mm |
40mm |
40 mm |
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可检测最小器件 |
0402 |
0201 |
0201 |
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夹具调整方式 |
手动 |
手动 |
电动 |
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偏角范围 |
0-360゜(可检测的器件偏角范围) |
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最快检测速度 |
14 平方厘米 / 秒 |
24平方厘米 / 秒 |
26 平方厘米 / 秒 |
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分辨率 |
21微米/象素
32微米/象素
42微米/象素 |
15微米/象素 |
15微米/象素 |
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外观尺寸mm
(长*宽*高) |
560*507*314 |
780×900×1200 |
760*950*1870 |
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操作系统 |
Windows2000(中文版) |
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电气指标 |
AC 220V,50 Hz |
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工作环境要求 |
环境温度:5℃-39℃ ;环境湿度: 5%-90% |
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可检查项目 |
器件缺漏、器件错位、器件侧立、器件反面、器件破损、极性错误、错误器件、缺焊、过焊、连焊、虚焊等 |
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可识别条形码 |
Code39、Code128 Inter、leaved20f5、EAN12、PDF-417、Data Matrix |
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可选部件 |
维修工作站、检测结果打印机、SPC模块 |
(五)Otek AOI软件简介
1.部分缺陷图例

Otek AOI能检测几乎全部可视的器件和锡点品质,并对这些缺陷有敏感的判断。
2.工具栏

Otek AOI以全中文的、简洁友好的用户界面而著称,这样的界面让使用的人倍感方便和亲切。
3.部分操作图例
(1)学习向导

Otek AOI采用向导式的学习方式,引导SMT的工程师一步一步完成学习过程,使得工程师可以集中精力抓住学习过程中的最重要的地方——学习好每一个器件和焊脚。
(2)学习器件

Otek AOI在器件的学习上也相当的与众不同,每一类元器件我们只需学习一次,其余的器件系统则可以自动完成,只是偶尔人工再适当调整一下。这就大大的节省了学习的时间,减轻了工程师的疲劳度,从而满足快速变化的生产线。
(3)学习IC管脚
Otek AOI在IC焊脚的学习上也同样富有特色。系统会自动的判断IC管脚的数量,工程师只需再重新调整一下位置和数量即可。

(4)在检测中不断的学习

Otek AOI最与众不同的地方还在于他可以在检测的过程中不断的再学习,不需要特别的去调试程序,既节约了时间,又提高了检测的准确率。
(5)系统提示检测结果

Otek AOI的检测结果含有非常丰富的信息,如检测的时间、检测的器件数量、PCB的条纹码信息等。
(6)强大的SPC实时分析系统
Otek AOI的SPC分析系统能快速、直观的反映生产线的品质的变化和缺陷的分布,并成为质量改进的重要依据。 |